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一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A
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一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A
一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A
型號(hào):BJHT-1/A
據(jù)中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DB/T50315-2000《砌體工程現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》中的“回彈法”所設(shè)計(jì),于測(cè)定工業(yè)與民用一般建筑物燒結(jié)普通磚砌體中砌筑砂漿的抗壓強(qiáng)度的無(wú)損檢測(cè)。
各類建筑工程中普通混凝土抗壓強(qiáng)度的無(wú)損檢測(cè)。
一體化設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊、小巧,無(wú)需檢測(cè)主機(jī)便可獨(dú)立工作
采用*的光電式傳感器,檢測(cè)精度高、使用壽命長(zhǎng)
采用OLED液晶顯示屏,全中文界面,操作方便。
構(gòu)件及測(cè)區(qū)參數(shù)可現(xiàn)場(chǎng)錄入,并自動(dòng)計(jì)算構(gòu)件檢測(cè)結(jié)果
具備實(shí)時(shí)時(shí)鐘日歷功能,可自動(dòng)記錄每個(gè)構(gòu)件的檢測(cè)日期及時(shí)間。*的低功耗管理功能,可設(shè)置屏幕背光、語(yǔ)音音量,自動(dòng)休眠,并有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),zui多可存儲(chǔ) 2000 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)件,一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)件zui多可檢測(cè) 16個(gè)測(cè)區(qū),*實(shí)際檢測(cè)工作的需要。
內(nèi)置大容量鋰電池,可反復(fù)充電使用,減少后期的使用成本,避免了一次性堿性電池帶來(lái)的高成本及對(duì)環(huán)境污染等缺點(diǎn)。
技術(shù)指標(biāo):
1) 沖擊動(dòng)能 0.196J
2) 彈沖擊長(zhǎng)度 75±0.3mm
3)指針滑塊的摩擦力 0.5±0.1N
4) 彈擊拉簧工作長(zhǎng)度 61.5±0.3mm
5) 彈脫鉤位置 刻度尺“100”刻線
6) 彈擊桿端部球面半徑 25±1mm
7) 彈起跳位置 刻度尺“0+1”處
8)鋼砧上的率定值 74±2
一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 數(shù)字一體回彈儀 一體式回彈儀
儀器配置:
1)提箱 1 只;
2)回彈儀主機(jī) 1 臺(tái);
3)電腦聯(lián)機(jī)通信用 USB 線 1 條;
4)充電電源適配器;
5)《說(shuō)明書(shū)》1 本;
6)程序光盤 1 張;
產(chǎn)品名稱:地質(zhì)羅盤儀 產(chǎn)品型號(hào): DQL-8 |
地質(zhì)羅盤儀 型號(hào):DQL-8
一、用途
DQL-8型地質(zhì)羅盤儀主要用途可供:
1 測(cè)產(chǎn)狀:包括走向、傾向、傾角;
2 地形草測(cè):包括定方位(即交會(huì)定點(diǎn)),測(cè)坡角,定水平;
3 測(cè)垂直角
二、主要性能
1 磁針阻尼時(shí)間(磁針偏轉(zhuǎn)90°至停留在原位置上的時(shí)間)小于15秒。
2 讀數(shù)誤差:
a 磁針轉(zhuǎn)動(dòng)前后所指示之度數(shù)誤差不大于0.5°;
b 磁針在0-180°、90-270°處由于偏心所引起誤差不大于0.5°;
c 測(cè)角器的讀數(shù)誤差不大于0.5°。
3 水準(zhǔn)器靈敏度:
a 長(zhǎng)水準(zhǔn)器20′±5′/2mm
b 圓水準(zhǔn)器30′±5′/2mm
4 儀器外觀尺寸(長(zhǎng)×寬×高)為80×70×35(mm)。
5 儀器重量為0.24kg。
三、原理、結(jié)構(gòu)
1、原理:本儀器是利用一個(gè)磁性物體(即磁針)具有指明磁子午線的一定方向的特性,配合該度環(huán)的讀數(shù),可以確定目標(biāo)相對(duì)于磁子午線的方向。根據(jù)兩個(gè)選定的測(cè)點(diǎn)(或已知的測(cè)點(diǎn)),可以測(cè)出另一個(gè)未知目標(biāo)的位置。
2、結(jié)構(gòu)
儀器由上蓋與外殼通過(guò)聯(lián)接合頁(yè)構(gòu)成儀器主體。上蓋內(nèi)裝有反光鏡,可使目標(biāo)映入鏡中。外殼的外部裝有長(zhǎng)照準(zhǔn)器,配合小照準(zhǔn)器可瞄準(zhǔn)目標(biāo)。外殼內(nèi)裝有刻度盤和磁針,可以直接讀出目標(biāo)的方位置,圓水準(zhǔn)器可以指示儀器的水平位置。長(zhǎng)水準(zhǔn)器和指示盤供測(cè)量坡角用,可以在方向盤的傾角刻度上直接讀數(shù)。開(kāi)關(guān)為磁針制動(dòng)機(jī)構(gòu),在外殼的側(cè)面?zhèn)溆写牌钦{(diào)整軸。
該儀器具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、攜帶方便、精度可靠、性能穩(wěn)定等特點(diǎn)。
四、使用方法
(一)測(cè)產(chǎn)狀(包括走向、傾向、傾角)
1 測(cè)走向:
走向即巖脈在水平上投影的方向。
將儀器上蓋打開(kāi)到限位置,用開(kāi)關(guān)放松磁針,調(diào)好本地區(qū)的磁偏角,將儀器兩個(gè)長(zhǎng)邊靠在巖層的特征面(具有代表性的面),保持圓水泡居中,則讀磁針北所指示的度數(shù),即為巖層的走向。
2 測(cè)傾向:
垂直于走向所批示的面的方向
用聯(lián)接合頁(yè)下邊的底盤的短邊或上蓋的背面靠穩(wěn)巖層的特征面,保持圓水泡居中,則讀磁針北所指示的傾向。
3 測(cè)傾角:
垂直于走向水平面夾角的角度。
先用開(kāi)關(guān)將磁針鎖住,上蓋打開(kāi)到限位置,儀器的側(cè)邊垂直于走向而貼緊巖層的特征面,調(diào)長(zhǎng)水泡居中,讀指示器所指的方向盤的度數(shù),即為巖層的傾角。
在實(shí)際測(cè)量中,走向和傾向兩因素,只需測(cè)其中一個(gè)就可以,因?yàn)樽呦蚝蛢A向是互為90°的關(guān)系。
(二)地形草測(cè)(包括定方位、測(cè)坡角、定水平線)
1 定方位:
目標(biāo)所處的方向和位置,定方位也叫交會(huì)定點(diǎn)。
① 當(dāng)目標(biāo)在視線(水平線)上方時(shí)的測(cè)量方法。
右手握緊儀器,上蓋背面向著觀察者,手臂貼緊身體,以減少抖動(dòng),打開(kāi)磁針,左手調(diào)整長(zhǎng)照準(zhǔn)和反光鏡,轉(zhuǎn)動(dòng)身體,使目標(biāo)、長(zhǎng)照準(zhǔn)尖的象同時(shí)映入反光鏡,并為鏡線所平分,保持圓水泡居中,則讀磁針北所指示的度數(shù),即為該目標(biāo)所處的方向。
按照同樣的方法,在另一側(cè)點(diǎn)對(duì)該目標(biāo)進(jìn)行測(cè)量,這樣兩個(gè)測(cè)點(diǎn)對(duì)同一目標(biāo)進(jìn)行的測(cè)量得出兩線沿著測(cè)出的度數(shù),相交于目標(biāo),就得出目標(biāo)的位置。
② 當(dāng)目標(biāo)在視線(水平線)下方時(shí)的測(cè)量方法
右手緊握儀器、反光鏡的觀察者的對(duì)面,手臂同樣貼緊身體,產(chǎn)減少抖動(dòng),打開(kāi)磁針。左手調(diào)正長(zhǎng)照準(zhǔn)器和上蓋轉(zhuǎn)動(dòng)身體、使目標(biāo)照準(zhǔn)尖同時(shí)映入反光鏡的橢圓孔中,并為鏡線所平分,保持圓水泡中,則讀磁針北所指示的度數(shù),即為該目標(biāo)所處的方向。
按照同樣的方法,在另一測(cè)點(diǎn)對(duì)該目標(biāo)進(jìn)行測(cè)量。這樣從兩個(gè)測(cè)點(diǎn)對(duì)該目標(biāo)進(jìn)行測(cè)量,得出兩線沿著測(cè)出的度數(shù),相交于目標(biāo),就得出目標(biāo)的位置。
2 測(cè)坡角:
目標(biāo)到觀察者與水平面的夾角。
先將磁針鎖住,右手握住儀器外殼和底盤,長(zhǎng)照準(zhǔn)器在觀察者的一方,將儀器平面垂直于水平面,長(zhǎng)水泡居下方。左手調(diào)正上蓋和長(zhǎng)照準(zhǔn)器,使目標(biāo)、照尖的孔同時(shí)為反光鏡橢圓孔刻線所平分。然后右手中指調(diào)正手把、從反光鏡中觀察長(zhǎng)水包居中,此時(shí)指示盤在方向盤上所指示的度數(shù),即為該目標(biāo)的坡角。
如果測(cè)某一坡面的坡角,則只需把上蓋打開(kāi)到限位置,將儀器測(cè)邊直接放在該坡面上,調(diào)整長(zhǎng)不泡居中,讀出該坡面的坡角。(與測(cè)產(chǎn)狀中的傾角相同。)
3 定水平線:
先將磁針鎖住,指導(dǎo)長(zhǎng)照準(zhǔn)器扳至與盒面成一平面,上蓋扳至90°而照準(zhǔn)尖豎直,平行上蓋,將指示器對(duì)準(zhǔn)“O”,則通過(guò)照準(zhǔn)尖上的視孔和反光鏡橢圓孔的視線,即為水平線。
(三)測(cè)物體的垂直角
先將磁針鎖住,把上蓋扳到限位置,用儀器測(cè)面貼緊物體(如鉆杠)具有代表性的平面,然后調(diào)長(zhǎng)水泡居中,此時(shí)指示器的讀數(shù),即為該物體的垂直角。
五、注意事項(xiàng)
1 磁針和軸尖、瑪瑙軸承是儀器主要的零件,應(yīng)小心保護(hù),保持干凈,以免影響磁針的靈敏度,不工作時(shí),應(yīng)把磁針鎖牢,以減少磨損。
2 的有合頁(yè)不要輕易拆卸,以免松動(dòng)而影響精度。
3 儀器盡量避免高溫暴曬,以免水泡漏氣失靈。
4 合面轉(zhuǎn)動(dòng)部分應(yīng)經(jīng)常點(diǎn)些鐘表油以免干磨而折斷。
5 長(zhǎng)時(shí)期不使用時(shí),應(yīng)放在通風(fēng)、干燥地方,以免發(fā)霉。
技術(shù)參數(shù)
長(zhǎng)水準(zhǔn)器角值: 15’±3’/2mm
圓水準(zhǔn)器角值: 30’±5’/2mm
測(cè)角器讀數(shù)差: ≤0.5°
度盤格值: 1°
重量: 0.27kg
尺寸: 80×70×35(mm)
產(chǎn)品名稱:雙組合四探針?lè)阶?電阻率測(cè)試儀 雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào):KDB-3 |
雙組合四探針?lè)阶?電阻率測(cè)試儀 雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 型號(hào):KDB-3
KDB-3雙組合測(cè)試儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SEMI MF1529設(shè)計(jì),雙組合測(cè)試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測(cè)量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。在本測(cè)試方法中,在測(cè)試樣品的每個(gè)測(cè)量位置上,以兩種不同的方式(配置)將探針連接到提供電流和測(cè)量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測(cè)量。單組合四探針相比,用較小間距的探針頭就可以進(jìn)行高精度的測(cè)量,從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。
儀器特點(diǎn)如下:
1、配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測(cè)量顯示硅片電阻率的同時(shí),另一塊數(shù)字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監(jiān)測(cè)全過(guò)程中的電流變化,使操作更簡(jiǎn)便,測(cè)量更精確。
數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、可測(cè)電阻率范圍:10—4 —1.9×104Ω·cm。
可測(cè)方塊電阻范圍:10—3 —1.9×105Ω/□。
3、設(shè)有電壓表自動(dòng)復(fù)零功能,當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測(cè)量電流流過(guò)時(shí),電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測(cè)量電流渡過(guò)單晶時(shí),電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值;同樣,當(dāng)四探針頭1、3探針間未有測(cè)量電流流過(guò)時(shí),電壓表指零,只有1、3探針接觸到硅片,測(cè)量電流渡過(guò)單晶時(shí),電壓表才指示2、4探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對(duì)測(cè)量的干擾。
4、流經(jīng)硅片的測(cè)量電流由高度穩(wěn)定(萬(wàn)分之五精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響,整機(jī)測(cè)量精度<3%。
電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開(kāi)頭及繼電器(>10萬(wàn)次),在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。
6、可選配軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,可進(jìn)行雙組合或單組合測(cè)量,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)切換電壓檔位、讀取相應(yīng)電壓值,根據(jù)不同方法計(jì)算電阻率或方塊電阻值;軟件可對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,如平均值,大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nèi)容。
7、可配KDDJ-3電動(dòng)測(cè)試架,自動(dòng)上下運(yùn)行,使測(cè)量更方便快捷。